電子線マイクロアナライザEPMA-1720シリーズ
3D測定レーザー顕微鏡
顕微ラマン分光光度計in Viaシリーズ
ナノサーチ顕微鏡SFT-4500
フーリエ変換赤外分光光度計FT-IR
エネルギー分散型蛍光X線分析装置EDX-LE Plus
ICP発光分析装置ICPE-9800
示差走査熱量計DSC-60 Plus
粒子径分布測定装置SALDシリーズ
シングルナノ粒子径測定装置IG-1000 Plus
自動比表面積/細孔分布測定装置トライスターII Plus3030
トリプル四重極型ガスクロマトグラフ質量分析計GCMS-TQ8050NX
原子吸光分光光度計AA-7800
サプレッサイオンクロマトグラフProminence HIC-SP
紫外・可視・近赤外分光光度計SolidSpec-3700/3700DUV
全有機体炭素計TOC-Lシステム
マイクロフォーカスX線CTシステムinspeXio SMX-100CT
マイクロフォーカスX線CTシステムinspeXioSMX-225CT
マイクロフォーカスX線透視装置SMX-1000Plus/1000L Plus
小型卓上試験機EZ-Testシリーズ
電磁力式微小材料試験機マイクロサーボMMTシリーズ
微小強度評価試験機マイクロオートグラフMSTシリーズ
ダイナミック超微小硬度計DUH-211/211s
定試験力押出形細管式レオメータフローテスタCFT-EX
上ざら電子天びんUWシリーズUXシリーズ
分析天びんAUシリーズ
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