エネルギー分散型蛍光X線分析装置EDX-LE
3D測定レーザー顕微鏡
走査型プローブ顕微鏡SPM-9700HT
乾式自動密度計アキュピックII1340シリーズ
ダイナミック超微小硬度計DUH-211/211s
電子線マイクロアナライザEPMA-1720シリーズ
微小圧縮試験機MCTシリーズ
精密万能試験機オートグラフAGX-Vシリーズ
フーリエ変換赤外分光光度計FT-IR
X線回折装置MAXima-X XRD-7000
シングルナノ粒子径測定装置IG-1000 Plus
定試験力押出細管式レオメータフローテスタCFT-EX
高機能比表面積/細孔分布測定装置アサップ2020Plusシリーズ
トリプル四重極型高速液体クロマトグラフ質量分析計LCMS-8040
紫外・可視・近赤外分光光度計SolidSpec-3700/3700DUV
マイクロフォーカスX線透視装置SMX-1000 Plus/1000L Plus
電磁力式微小材料試験機マイクロサーボMMTシリーズ
顕微ラマン分光光度計in Viaシリーズ
X線光電子分光分析装置ESCA-3400HSE
トリプル四重極型ガスクロマトグラフ質量分析計GCMS-TQ8050NX
ガスクロマトグラフNexis GC-2030
ガスクロマトグラフ質量分析計
超高速液体クロマトグラフNexeraシリーズ
示差走査熱量計DSC-60 Plus
油圧サーボ式疲労試験機サーボパルサ
ICP発光分析装置ICPE-9800
X線回折装置XRD-6100
X線光電子分光分析装置
サプレッサイオンクロマトグラフProminence HIC-SP
波長分散型蛍光X線分析装置LAB CENTER XRF-1800
走査型プロープ顕微鏡SPM-9700HT
ナノサーチ顕微鏡SFT-4500
分析天びんAUシリーズ
超高速トリプル四重極型LC/MS/MSシステムLCMS-8060
粒子径分布測定装置SALDシリーズ
ダイナミック超微小硬度計DUH-211/211S
マイクロフォーカスX線CTシステムinspeXio SMX-100CT
自動比表面積/細孔分測定装置トライスターⅡ3020シリーズ
小型卓上試験機EZ-Testシリーズ
ポータブルガス濃度測定装置CGT-7100
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