エネルギー分散型蛍光X線分析装置EDX-LE
走査型共通焦点レーザー顕微鏡OLS4000シリーズ
走査型プローブ顕微鏡SPM-9700
乾式自動密度計アキュピックII1340シリーズ
ダイナミック超微小硬度計DUH-211/211s
電子線マイクロアナライザEPMA-1720シリーズ
微小圧縮試験機MCTシリーズ
精密万能試験機AG-Xplusシリーズ
フーリエ変換赤外分光光度計IRTracer-100
X線回折装置XRD-7000
シングルナノ粒子径測定装置
定試験力押出細管式レオメータフローテスタCFT-EX
高機能比表面積/細孔分布測定装置アサップ2020シリーズ
トリプル四重極型高速液体クロマトグラフ質量分析計LCMS-8040
紫外・可視・近赤外分光光度計SolidSpec-3700/3700DUV
マイクロフォーカスX線透視装置SMX-1000 Plus/1000L Plus
電磁力式微小材料試験機マイクロサーボMMTシリーズ
顕微ラマン分光光度計in Viaシリーズ
X線光電子分析装置ESCA-3400HSE
トリプル四重極型ガスクロマトグラフ質量分析計GCMS-TQ8050
ガスクロマトグラフNexis GC-2030
ガスクロマトグラフ質量分析計
高速液体クロマトグラフProminenceシリーズ
示差走査熱量計DSC-60 Plus
強化試験機オートグラフAG-Xplusシリーズ
油圧サーボ式疲労試験機サーボパルサ
ICP発光分析装置ICPE-9800
電子線マイクロアナライザEPMA-1729シリーズ
X線回折装置XRD-6100
X線光電子分析装置
サプレッサイオンクロマトグラフProminence
シーケンシャル形蛍光X線分析装置
走査型プロープ顕微鏡SPM-9700
ナノサーチ顕微鏡SFT-4500シリーズ
マイクロフォーカスX線CTシステムinspeXioSMX-100CT
フーリエ変換赤外分光光度計IRAffinity-1S微小試料分析システム
分析天びんAUシリーズ
超高速トリプル四重極型LC/MS/MSシステムLCMS-8060
粒子径分布測定装置SALDシリーズ
シングルナノ粒子径測定装置IG-1000 Plus
サプレッサイオンクロマトグラフProminence HIC-SP
ダイナミック超微小硬度計DUH-211/211S
マイクロフォーカスX線CTシステムinspeXio SMX-100CT
自動比表面積/細孔分測定装置トライスターⅡ3020シリーズ
小型卓上試験機EZ-X
連続形赤外線式ガス分析計ポータブル型ガス分析計CGT-7000
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